2次元複屈折評価システム

WPA-200-MT

複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。
インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。

スペック
	測定
出力項目	位相差(nm),位相軸方位(°) ※データ処理オプションにより応力値換算可能(Mpa)
測定範囲	0～3500nm (水晶にて評価した場合)
繰返し再現性	σ<0.1nm
	センサユニット
複屈折画素数	384 × 288 (≒11万) pixels
測定波長	523nm, 543nm, 575nm
	筐体
寸法 (W x D x H)	ベースステーション付160 × 215 × 300mm
測定視野サイズ	約33 × 44mm (標準レンズ) 約4.1 × 5.5 ～約11.5 × 15.3mm (ズームレンズ ※購入時選択制、交換不可）
本体重量	約4.5kg
	その他
インターフェース	GigE（カメラ信号）
電源/消費電流	AC100～240V（50/60Hz） / ～5.0A
ソフトウェア	WPA-View
付属品	ノートパソコン、標準レンズ、取扱説明書、選択したレンズ（標準orズーム）
	オプション
ズームレンズ	要相談
データ処理機能	対応
広視野補正機能	対応
レンズ解析機能	対応
リアルタイム解析機能	対応
外部制御機能	対応
波長分散（CD）モード	対応
WPA高位相差測定機能	要相談
レンズ測定専用ステージ	対応
PA・WPA用遮光カバー	対応
光弾性係数計測オプション	非対応

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2次元複屈折評価システム PA/WPAシリーズ（日本語版）

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カテゴリ

#複屈折・応力ひずみ計測ソリューション
#2次元複屈折評価システム
#複屈折計測装置
#樹脂成型品

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