2次元複屈折評価システム
WPA-micro
複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。
結晶配向分布評価
顕微鏡視野で結晶配向分布がデータ化できます。金属などの不透明サンプルの反射評価も可能です。
|
|
| 出力項目 |
|
| 測定範囲 |
|
| 繰返し再現性 |
|
|
|
| 複屈折画素数 |
|
| 測定波長 |
|
|
|
| 寸法 (W x D x H) |
|
| 測定視野サイズ |
|
| 本体重量 |
|
|
|
| インターフェース |
|
| 電源/消費電流 |
|
| ソフトウェア |
|
| 付属品 |
|
|
|
| ズームレンズ |
|
| データ処理機能 |
|
| 広視野補正機能 |
|
| レンズ解析機能 |
|
| リアルタイム解析機能 |
|
| 外部制御機能 |
|
| 波長分散（CD）モード |
|
| WPA高位相差測定機能 |
|
| レンズ測定専用ステージ |
|
| PA・WPA用遮光カバー |
|
| 光弾性係数計測オプション |
|
カタログ/会社案内ダウンロード
カテゴリ
- #複屈折・応力ひずみ計測ソリューション
- #2次元複屈折評価システム
- #複屈折計測装置
- #樹脂成型品