複屈折評価システム PA-200,PA-200-L

複屈折・位相差を高速に測定できるスタンダードシステムです。 ガラスなどの低位相差サンプルの複屈折分布測定、評価に利用いただけます。
標準タイプ PA-200 に加えて、観察範囲の広い PA-200-L がございます。
PA-200
PA-200
PA-200-L
PA-200-L

 簡単操作/高速測定

サンプルをガラスステージに置いて、測定ボタンをマウスでクリックするだけの簡単操作!
独自の偏光イメージセンサ内蔵カメラにより、位相差の全面測定が手軽に短時間で実現できます。
 

 面分布データと多彩な解析機能

計測結果は直感的にわかりやすい、面分布データ(2次元データ)で表示されます。
 
そして、多彩な分析機能により計測結果を、簡単に比較、グラフ化できます。
測定データは、パソコンに保存できるので、過去の測定データとも比較ができます。
 

仕様

  PA-200 PA-200-L
測定
測定範囲 0~130nm
繰返し再現性 1.0nm以下
センサユニット
複屈折画素数 1120×868(≒100万)pixels
測定波長 520nm
筐体
寸法 270×340×560 mm 430×490×910 mm
測定視野サイズ 27×36 mm ~ 99×132mm (標準レンズ) 36×48 mm ~ 240×320mm (標準レンズ)
3.6×4.8 mm ~ 12.9×17.2mm (ズームレンズ ※オプション)
重量 12kg 22kg
その他
インターフェ-ス GigE(カメラ信号)
電源 / 消費電流 AC100~240V(50/60Hz) / ~6.0A
ソフトウェア PA-View
付属品 ノートパソコン、標準レンズ、取扱説明書
注1)測定対象の材質によるより計測可能な範囲が異なります。
※製品仕様は予告無しに変更することがあります。
※本製品で計測できる内部歪みは光学的に測定され、測定値は光学位相差(単位:nm)で表示されます。