SEMICON Japan 2013 に当社製品を出展

2013-12-09
2013/12/04 から 2013/12/06 まで 幕張メッセで行われた SEMICON Japan 2013菱光社様ブースにて
透明基板対応マッピングエリプソメータ ME-210-T
大面積サンプル対応2次元複屈折評価装置 PA-110-t を出展しました。