高機能フィルム展に共同出展

2013-04-13
4/10~4/12 東京ビッグサイトにて開催された高機能フィルム展に出展させて頂きました。複屈折評価システム WPAシリーズやエリプソメータタイプ膜厚測定装置の紹介の他、共同開発パートナーであるフォトロン社のブースにて光学フィルムの高速位相差計測システムと延伸試験用複屈折評価装置の紹介に参加させて頂きました。フォトロン社の高速度カメラと当社の偏光計測技術の組み合わせならではの画期的な製品と評価頂いております。