購入前

Q

フォトニック結晶型ビームシェイパーの耐光性はどのくらいですか？

CWレーザーで8kW/cm2(波長1064nm)、10kW/cm2(波長355nm)の耐久性が確認できています。

Q

素子のデモ品はありますか？

軸対称型偏光素子の有効径Φ7mm、対応波長405nm or 532nmのデモサンプル品があります。

Q

素子の既製品、標準品はありますか？また、ビームシェイパーはどうですか？

軸対称偏光素子は波長405nm、532nm、1064nmが標準品として用意しています。ビームシェイパーの標準品はなく、カスタム品となります。

Q

波長が短いと作りやすさは変わりますか？

波長が短いと材料選定、パターン設計が難しくなります。

Q

素子の透過率はどれくらいですか？

98％程度は可能です。

Q

DOEと比較してどうですか？また、回折効率は？

効率はステップが極微細なレリーフ構造のDOEと同等です。ただし、DOEと違い不連続構造がないので散乱が少ない点では優位性があります。平坦化処理もできますので、DOEでは困難な素子表面のクリーニングも容易にできます。

Q

無偏光でもPhC素子が使えますか？

無偏光入射に対応した素子も提案は可能です。

購入前

Q

PAシリーズとWPAシリーズの違いは何ですか？

偏光センサが違います。それぞれの特性により、PAは低位相差、WPAは高位相差が得意です。評価対象としてはPAはガラス、アクリル、微弱な応力評価に。WPAは樹脂成形品、フィルム、強い応力などの評価に使われます。

Q

PAシリーズは応力は測れないのですか？

測定しているのはあくまでリタデーション（位相差）です。
光弾性効果では材料個別の光弾性定数に応力と厚さをかけるとリタデーションになります。
データ処理オプションには、光弾性定数、厚さを入力いただき、応力の単位で表示する機能もあります。
ただし形状にも影響を受けますので、数値の保証までは致しかねます。

Q

屈折率分布（屈折率差）は測れないのですか？

測れません。測定しているのは、屈折率の絶対値ではなく、偏光方向による屈折率の差を測定しています。

Q

WPAシリーズで3波長で測る意味は？

測定波長毎に少しだけ異なる位相差値になります。その差から単波長では分からない大きな位相差も計算することが可能になります。

Q

解像度はどの程度ですか？

測定ヘッドを上下することで視野範囲を変えることができます。
その範囲によって解像度が決まります。PAでは横方向2464画素で、WPAでは384画素です。

Q

半透明のものでも測れますか？

度合いによります。デモ評価をご依頼いただき、お確かめいただくことができます。なお半透明の度合いによって、測定値はずれる可能性があることはあらかじめご了解ください。

Q

クリーンルームに対応していますか？

保証はしておりませんが、クリーンルームでの使用実績は多数ございます。

Q

自動ステージなどと組み合わせて、自動的に測定したいのですが。

外部制御オプションにより、外部プログラムから測定装置(PA/WPA)を制御することが可能です。

Q

測定環境は暗室が必須ですか？

必須ではありません。ただし、室内照明がサンプルに映り込んで測定値に影響を与える場合があります。幾つかの機種ではオプションとして「遮光カバー」もご用意しております。

Q

カスタム対応は可能ですか？

お客様と相談の上、可能な限り対応しております。お問い合わせフォームからご連絡ください。

Q

複屈折があるかどうかわからないのですが。

2枚の偏光フィルムでサンプルを挟んでいただき、手前のフィルムを回してみてください。
明るさや色味が回転によって変われば、複屈折があると判断できます。

Q

深さ方向の位相差分布は可能ですか？

できません。

Q

位相差の入射角依存性は測定できますか？

できません。

Q

すりガラスは測れますか？

測定はできますが、散乱の程度により正しい値は出力されない場合があります。

Q

赤い樹脂成形品は測定できますか？

近赤外波長で測定できる機種がリリースされました。1度サンプル測定、デモなどでお試しください。

Q

レンズは自由に変えてもいいですか？

当社でレンズごとに補正を取っています。付属のレンズ以外は使用しないください。

Q

ヘッドを外して別の光源と合わせて測定したい。

MTタイプを推奨します。測定ヘッドの分離可能です。お問い合わせください。

購入後

Q

ベースラインはどう取りますか？

一度サンプルを置いていただき、視野サイズ、フォーカスを調整いただいた後、光源の上に何も置かない状態で取得してください。

Q

ベースラインを取る間隔は？

できたら測定直前に毎回取得が望ましいです。
温度変化等で光学系の複屈折が変化するため、ベースライン取得後時間が経過すると、測定値に影響がでる場合があります。

Q

「測定精度」とは？

PAの測定では一番のノイズの原因はCCDセンサでのランダムノイズです。
これは多数枚を積算することで低減ができます。
ソフト上で「測定精度」を変更した場合、画像の取得枚数が変わります。
枚数が多い（ノイズが少ない）ほど測定時間は長くなります。

Q

「レンズ切り替え」とは？

PA/WPAではレンズを含めた光学系の補正を行っています。したがってレンズを変更された場合は、レンズに合わせて切り替えていただく必要があります。（あらかじめ登録したレンズ以外が使用できません）

Q

ベースライン取得後ヘッドの高さを変えても大丈夫ですか？

ヘッドの高さを変えると、見ている光源範囲が変わります。厳密には異なる偏光分布となりますので、ベースラインを取り直していただくことが望ましいです。

Q

起動してすぐに測定しても大丈夫ですか？

測定はできますが、起動後しばらくは光源、ステージガラスの温度が安定しないため、光源の偏光状態が微小ですが変動します。起動後30分ほど待っていただくのが望ましいです。

Q

曲面のあるサンプル（レンズなど）を測ると、サンプルを回転させても追従しない位相差分布が出ます。これは測れているでしょうか？

光源側円偏光フィルムの斜め入射の影響が出ていると考えられます。その影響を低減するオプションもありますのでご検討ください。
こちらのページをご参照ください。

Q

測定時間より短時間で変化する現象を評価したいのですが？

オプションとしてリアルタイム解析機能がございます。こちらの機能を使うことで数秒で変化する現象の数値解析も可能になります。

Q

測定環境の影響は受けますか？

温度の影響はあります。よって、室温を一定に保たれた環境が望ましいです。また、低い位相差を測る場合はサンプルの温度慣らしの時間を取ることなども重要です。

購入前

Q

多層膜の厚さは測定できますか？

測定できるパラメータは二つだけです。それ以外の層の厚さと各層の屈折率がすべて既知であれば、測定できます。

Q

透明基板上の膜厚は測定できますか？

厚さ0.5mm以上であれば可能です。ME-210-Tという製品が該当します。SEシリーズではできません。

Q

MEシリーズの空間分解能はどの程度ですか？

高精細モードで5.5μm間隔のデータは出ます。
ただし実力値は、光学系の制限により20ミクロン程度の分解能とお考え下さい。

Q

別の波長で測定できますか？

カスタマイズ対応となります。問い合わせフォームからご相談ください。

Q

クリーンルーム対応可能ですか？

お問い合わせください。

Q

分光エリプソは可能ですか？

できません。単一波長のみです。

Q

ローダーとの組み合わせは可能ですか？

実績はございます。問い合わせフォームからご相談ください。

Q

MEシリーズの測定時間はどの程度ですか？

最大毎分20000点以上（高精細モード）です。

Q

MEシリーズの測定面積はどの程度まで可能ですか？

標準で直径8インチ。カスタムで直径12インチが可能です。

Q

SEシリーズで測定ヘッドのみの購入は可能ですか？

1台目は標準セット、2台目以降はヘッドと光源をセットにしたユニット売り可能です。

購入前

Q

このカメラでどんなことが観察、評価できますか？

CRYSTAは透明材料の「内部応力」と「配向構造」を可視化できる世界最高速の偏光高速度カメラです。
製品ページの評価事例をご覧ください。

購入前

Q

このカメラでどんなことが観察、評価できますか？

赤外線ハイスピードカメラは高速温度測定、CO2ガスの可視化、溶接の温度解析などの観察、評価に使えます。
製品ページの評価事例をご覧ください。

購入前

Q

この干渉計でどんなことが観察、評価できますか？

干渉計測の対象を動的現象に広げることを可能にしました。
製品ページの評価事例をご覧ください。