2013/12/04 から 2013/12/06 まで 幕張メッセで行われた SEMICON Japan 2013菱光社様ブースにて
透明基板対応マッピングエリプソメータ　ME-210-T、
大面積サンプル対応２次元複屈折評価装置　PA-110-t を出展しました。