对比度低下的原因
光学薄膜中的相位差缺陷会导致显示质量不佳。
在检测相位差缺陷方面，传统的检查方法已经到达了极限!
光学薄膜的全面检测可提高显示器的质量和成品率
提高整个供应链的价格竞争力和质量
唯一能够进行全面全长检测的在线检测系统 KAMAKIRI
通过本公司的KAMAKIRI系统，可以对薄膜的全长全宽范围表面进行检测，这样就可以检测到突发的光学斑纹从而实现稳定的质量检查。 该系统还配备了光学斑纹判定功能，可以从图像中提取光学斑纹的特征，进行瑕疵判定，并列出瑕疵在卷上的位置。 利用这个列表，可以将优质的薄膜从卷筒中提取出来投入显示器生产，从而提高成品率。
最后，自2014年推出以来，KAMAKIRI已被日本的显示器用光学薄膜制造商广泛采用，最近也被引入光学薄膜领域正蓬勃发展的韩国、中国和台湾地区。
【可对应薄膜】
相位差膜（拉伸型和涂布型）
PVA薄膜，圆偏振片，线偏振片
【提案产品】
・KAMAKIRI STS-LS→点击这里下载目录
关于演示试验
可以免费提供切割样品的初次演示试验。 您可将合格及不合格的样品同时发送给我们，我们将向您报告是否能检测到相位差缺陷。
演示是在本公司的实验室（日本）进行的；也可经由网络远程参加演示试验，请通过以下方式联系我们。
TECHNOLOGY
最前沿的光学技术 更好的信息社会
我们的核心技术是光子晶体技术。可利用溅射技术将具有不同轴线的微偏振元件阵列以任意排列样式层叠在单个基板上。该技术作为光通信（偏振复用）、半导体（DUV光检测）以及精密加工（光束整形）的核心技术，已经被多个领域的尖端设备所采用。 目前，通过特殊光学系统及算法的开发，我们已经推出了双折射测量装置、偏振光高速相机、超高速高灵敏度热成像装置以及二氧化碳成像装置等产品，可用于传统方式难以实现的可视化和测量。 光作为世界上最细微的物质具有非常普遍的价值。我们将尽可能的通过开发光学技术以及使用方案，为实现更好的情报社会和安全社会做出贡献。
公司名称
| 会社名 | Photonic Lattice, Inc. |
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| 业务范围 |
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| 所在地 |
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| 成立 | 2022年 7月 4日 |
| 资本和其他资产 | 资本9000万日元，资本储备5300万日元 |
| 管理团队 |
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