透明樹脂成型品の残留応力分布

透明樹脂成型品検査

透明樹脂製品の内部応力、金型内の樹脂流れ、微小欠陥を可視化し、成形条件の最適化に活用されています。

位相差分布は成形条件の違いを敏感に反映するためプロセス管理に最適です。良品（上図）と不良品・欠陥品（下図）を比較し、定量的にOK/NG判定することが可能です。

成形品の光学特性のばらつきが、画像表示のコントラスト低下、形状ずれの原因となることがあります。良品、不良品を比較し、定量的にOK/NG判定することが可能です。

成型品の穴あけ加工不良により、残留応力が高まり亀裂などの欠陥の原因となります。（アニール前（上図）アニール処理後（下図））加工後の残留応力の品質管理用として短時間（約 1分）で検査が可能です。

複屈折/位相差の分布を高速に500万画素の高解像度で測定する測定範囲0～130nmの低位相差向け装置です。顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

測定波長に近赤外帯域を使用することで、肉眼では不透過の材料でも複屈折/位相差を測定する装置です。カルコゲナイドレンズ、LiDAR車載部品の歪み測定など近赤外波長を透過する測定対象に向いています。

複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。
顕微鏡視野で複屈折を測定できるタイプです。
付属の顕微鏡はオリンパス製またはニコン製を選択可能です。

複屈折/位相差の分布を３波長で測定することにより位相差の測定レンジを0～3500nmに拡大したシリーズです。インラインにも組み込み可能な光源と測定ステージが分離できるタイプです。