新機種 ５機種の販売を開始しました。

WPA-100-H
高位相差対応ワイドレンジ２次元複屈折測定システム
１万nmを超える位相差分布を測定できます。

PA-110-t
XYステージ付き２次元複屈折測定システム
８インチウエハ基板を一度に測定できます

ME-210-T
透明基板対応高速マッピングエリプソメータ 今まで測定が難しかった、ガラスなどの透明基板上の薄膜を測定できます

SE-102
小型・低価格の薄膜測定 エリプソメータ
機能を最小限にし価格を抑えた小型エリプソメータです

PI-micro
顕微鏡取付用複屈折分布観察カメラ